SEKK - Encyklopedie laboratorní medicíny pro klinickou praxi 2012
Prosíme, věnujte u každého dokumentu pozornost datu jeho poslední aktualizace, které je uvedeno v zápatí (obsah dokumentu vždy odpovídá stavu poznání v době jeho vzniku).
 

Rentgenová fluorescenční spektrometrie (XRFS)

 

Metoda XRFS je založena na detekci sekundárního záření, které je vyvoláno působením primárního rentgenového záření (RTG) na analyzovaný vzorek.

Sekundární záření je charakteristické pro každý prvek, je vyvoláno absorpcí primárního RTG záření o kratší vlnové délce (vyšší energii) než má absorpční hrana zvolené série určitého prvku, přičemž dochází k vytržení elektronu z vnitřního orbitalu atomu. Přechodem elektronů mezi vnitřními elektronovými hladinami na hladiny nižší vzniká RTG fluorescenční záření.

Budícím zdrojem je buď primární RTG lampa s vhodnou anodou, nebo sekundární fluorescenční záření radionuklidů (metoda RRFA). Výběr zdroje závisí na charakteru vzorku, jeho energie musí ležet nad absorpčními prahy stanovovaných prvků, aby bylo emitováno charakteristické záření.

Radionuklidové zdroje - bodové, prstencové

Detekce: proporcionální počítače, scintilační fotonásobiče, polovodičové detektory

Vzorky: tuhé vzorky na vhodné podložce - oceli, geologické materiály

 

Použití XRFS:

Rozbor vzorků je umožněn přímo v pevné matrici, příznivá je rychlost a multiprvkovost techniky, nízké meze detekce prvků od atomového čísla 5-Bor (XRFS), vedle kovových prvků lze stanovit i nekovy P, S, C. Analyzovány jsou sypké i kompaktní, kovové i nekovové materiály, výjimečně kapaliny.

 

Další informace

·       Optické techniky

·       Stopové prvky

·       Analýzy stopových prvků

 

 

Jaroslava Vávrová

.

 

Poslední aktualizace: 2006-12-14